LC/MS装置パラメーターとマススペクトルパターン／MS分析ならエムエス・ソリューションズ株式会社 | LC/MS分析に関する技術指導・セミナー

LC/MS装置に用いられているイオン源は、ESIなどの大気圧イオン源が主流です。これは、市販のESIソースの一般的な模式図です。大気圧で生成したイオンは、イオン取込細孔（図ではイオン導入細孔）から質量分析計の真空領域に進入し、質量分析部においてm/z分離されます。イオン取込細孔の名称はメーカーによって異なり、コーン、オリフィス、加熱キャピラリー、トランスファーチューブなどと呼ばれます。

　この部分には電圧が印加されていて、次のステージにイオンを送り込む働きをします。この電圧によって、イオンの強度やマススペクトルのパターンは変化します。

この図は、Waters社のSYNAPT G2-Sを用いて、ペプチドの一種であるロイシン・エンケファリン（C28H37N5O7、モノアイソトピック質量 555.2693）を測定した例です。正イオン検出のESIで測定すると、溶媒条件によっても異なりますが、m/z 556（[M+H]⁺）が主に検出されます。

イオン取込細孔（コーン）電圧を30 V, 50 V, 70 Vに設定した時のマススペクトルパターンの変化を示しています。m/z 556イオン強度は、コーン電圧を30 Vに設定した時に最高値を示しました。データには示していませんが、これより低い電圧では、同イオン強度も低い値を示しました。そして、30 Vよりも高い値（50 V, 70 V）に設定すると、 m/z 556イオンよりも小さな m/z 領域にイオンが観測されるようになりました。これらは、 m/z 556イオンが断片化して生成したフラグメントイオンです。この現象は、In-source CIDと呼ばれています。CIDは、collision-induced dissociationの略で、日本語では衝突誘起解離と言います。イオンがHeやN₂などの不活性ガスと衝突する事で、内部エネルギーが上昇して断片化を起こす現象です。

イオン取込細孔の電圧は、多くの人がデフォルト値に設定していると思います。しかし、その電圧設定によってイオン強度やマススペクトルパターンは変化しますので、分析目的によっては最適化が必要になります。